mp3 | Магазин | Рефераты | Рецепты | Цветочки | Общение | Знакомства | Вебмастерам | Домой

To dynamical theory of electrothermal degradation and NDT of defects in metal (WinWord)


запомнить в избранное
 
искать в этом разделе


ВНИМАНИЕ !!! Это сокращенная версия файла. Предназначена она только для того, чтобы вы могли предварительно ознакомиться с документом, перед тем как его скачать. Здесь нет картинок, не сохранен формат, шрифт, размеры и положение на странице.
Чтобы скачать полную версию, нажмите ссылки которые находятся чуть-чуть ниже (Info File Mail)
 Info File Mail 
Файл относится к разделу:
ИHОСТРАHHЫЕ ЯЗЫКИ
To dynamical theory of electrothermal degradation and NDT of defects in metal-dielectric-metal (MDM) structures
Valentin M. Bogomol'nyi
Moscow Institute of Technology, 141220, Moscow Region, Pushkinsky raion, Cherkizovo-1, Russia
ABSTRACT
On base of the solid state physics and theory of nonlinear oscillations interpretations a development of the thermofluctuation fatique of mechanics theory is formulated. It is shown that electrical damage haves resonance nature. An influence of the electron processes on the first time pre-breakdown stage with mainly of microdefects formation is considered. The proposed theory contents consideration of polarization of the local domains the "cross-pieces" between neighbouring micropores, which formed elementary electrical dipoles. Strong external constant electrical field lead to negative differential resistance of the local dielectric domains with N-or S-type current-voltage-characteristic (CVC) parts and as result to current oscillations and electromagnetic wave radiation from MDM structure (as in Gunn's diode. On base of A. Puankare's limit cycles nonlinear oscillations theory it is shown that defects formation leads to selfexciting current oscillations and microwave radiation. This information can be used in thermosense NDT and, that is principal, for elimination of the defects, which arised under fabrication of electronic devices.
Keywords: Electrothermal, resonance, degradation, dielectric, polarization, thermosense
1. INTRODUCTION
Dielectric thin films aging and breakdown is a phenomenon of major technological significance in optoelectronics, micro- and nanoelectronics. Study of the microdefects formation haves a practical interest at first for improvement of industrial electronic devices quality. On other hand the specially used structure defects lead to sensors, diodes and transistors functional parameters enhance1.
Pre-breakdown reversible effects are used in radars as sources of high-frequency radiation (0,1 - 103 GHz)


подписаться на рассылку.
добавить в избранное.
нашли ошибки ?

Это место продается !!!

Ищу реферат (диплом) Если вы не можете найти реферат, то дайте в этом разделе объявление и возможно вам помогут :)
Предлагаю реферат (диплом) Если у вас есть свои рефераты и вы готовы помочь другим, то дайте в этом разделе свое объявление и к вам потянуться люди :)
Пополнить коллекцию Здесь вы можете пополнить нашу коллекцию своими рефератами.

mp3 | Магазин | Рефераты | Рецепты | Цветочки | Общение | Знакомства | Вебмастерам | Домой

время поиска - 0.03.